µCMM测量严格公差的光学坐标测量机

以最高精度测量大型部件的微小表面细节及尺寸

µCMM是第一台纯光学三坐标测量机,用于高精度测量极小的公差。 其结合了接触式三坐标测量技术和光学表面测量技术的优势:

  • 只需一个传感器就能测量尺寸、位置、形状和粗糙度
  • 整个测量范围内的高精度
  • 非接触式,Focue-Variation光学测量
  • 适用于哑光到高度抛光的部件
  • 易于操作
  • 无磨损,坚固耐用,适用于生产
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µCMM的亮点

使用µCMM还能实现什么

技术规格

测量原无接触,光学,三维,基于全自动变焦技术,包含垂直聚焦测量技术
测量像素 单独测量: X: 1720, Y: 1720, X x Y: 2.95 百万 多个测量: 最多可达5亿
定位量 (X x Y x Z)310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³
轴移动速度可达100毫米/秒
同轴光LED同轴照明(真彩),高功率,电子控制
系统监控9个温度传感器(精度: ± 0.1 K),3个震动检测传感器,内部电流和电压监控,包括长期记录,可检索
三维精度10360-8EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm (L in mm), EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm)
镜头放大倍数3000 WD81900 WD 301500 WD231500 WD70800 WD17800 WD37400 WD19150 WD11
工作距离mm 8.83023.569,417.5371911
横向测量范围 (X,Y) mm5.263.29 2.632.631.321.320.660.26
(X x Y)mm² 27.6410.86.916.911.711.710.430.06
视频:µCMM如何工作
 
视频:
挑选和放置是如何工作的

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