µCMM NEO
新一代光学坐标测量仪
卓越的测量技术才能助力生产极致精密的零部件
全新的 µCMM NEO 光学坐标测量仪,尽展超过 25 年光学测量经验的非凡实力,它不但突破传统尺寸测量限制,更能全面掌握物件表面各项细节,不是以往的纯尺寸测量能够比拟。
µCMM NEO 的核心技术结合了表面优先计量法(Surface-First Metrology)及面形 3D 数据,让 µCMM NEO 产品使用者能够确切无误地了解受测零部件的全方位特征,无论是微细几何结构、自由曲面还是微孔洞,均可快速且精准地测量。µCMM NEO 产品使用者可透过 µCMM NEO 的分析和评估数据,轻松判断该受测零部件的实际功能表现。

高端制造领域的旗舰级光学坐标测量仪
µCMM NEO 关键优势速览
为微米级乃至更高精密度需求
倾力研发
为微小几何结构提供精准的非接触式测量,是高端精密零部件品质控制的终极利器。
测量世界
精度不容妥协
五轴精密驱动系统确保尺寸与位置臻至最高精度。无论零部件怎样放置,在整个测量空间内皆能提供稳定、可靠的测量结果。
自第一代 μCMM问世以来,便一直是专为高精密制造而生的顶级测量系统。Stepper 是最高精准度与卓越生产力的佼佼者,我们将质量控制保证交予 μCMM,是不二之选。
2018 年,我们非常荣幸能成为全球首位 μCMM 客户;而现在,我们又是 μCMM NEO 的首批使用者,延续著双方紧密且信赖的合作同时,亦是我们与布鲁克阿利康纳 Bruker Alicona 共同追求极致精密制造的道路上,另一个重要里程碑。

技术规格
| 测量原 | 无接触,光学,三维,基于全自动变焦技术,包含垂直聚焦测量技术 | |
| 测量像素 | 单次测量: X: 2160, Y: 2160, X x Y: 4.6 百万 多点测量:最高可达5亿次 | |
| 定位量 (X x Y x Z) | 310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³ | |
| 轴移动速度 | 最高 100 毫米/秒 | |
| 同轴光 | LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控 | |
| 系统监控 | 8个温度传感器(精度:±0.1 K)、1个湿度传感器、内部电流和电压监测,包括长期数据记录,可检索 | |
| 三维精度10360-8 | EUni:Tr:ODS,MPE = (0.7 + L/600) μm (L in mm) 轴精度符合 ISO 10360-8 标准。 EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm) 适用于单次测量和分段高度测量。 | |
| 最大重量 | 最大承重30公斤;如需更大承重请咨询;5轴系统最大样品重量:4公斤 | |
| 最大尺寸 | 宽度:680 毫米,高度:375 毫米 | |
| 最大可测倾角 | Focus-Variation: 87° / Vertical Focus Probing: >90° (具体应用而定) | |
| 目标 | 1900 WD 30 | 1500 WD23 | 1500 WD70 | 800 WD17 | 800 WD37 | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | |
| 工作距离 | mm | 30 | 130 | 69,4 | 17.5 | 37 | 19 | 11 | 4.5 |
| 单次测量所得的测量面积 (X,Y) | mm | 3.8 | 3.12 | 1.6 | 1.6 | 1.32 | 0.8 | 0.3 | 0.16 |
| (X x Y) | mm² | 14.56 | 9.73 | 9.73 | 2.43 | 2.43 | 1.61 | 0.1 | 0.02 |
| 测量点间距 | µm | 1.77 | 1.45 | 1.45 | 0.72 | 0.72 | 0.36 | 0.14 | 0.07 |
| 测量噪声 | nm | 30 | 90 | 70 | 4 | 25 | 2 | 1 | 1 |
| 垂直分辨率 | nm | 85 | 255 | 200 | 30 | 71 | 20 | 10 | 10 |
决定产品品质的关键指标
µCMM NEO 光学坐标测量仪
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自动化测量,全面释放 μCMM NEO 光学坐标测量仪强大性能
只需导入 CAD 模型,勾选所需的几何公差(GD&T)或产品制造资讯(PMI),即可一键启动测量。MetMaX 会按导入的资料,自动生成智慧测量策略,即使是不同的操作人员、零部件及生产环境,均可迅速输出一致且可追溯的测量结果。告别传统测量仪的复杂操作程序,杜绝生产环境改变或操作人手转换造成的测量误差。


