下一代光学坐标测量机 – µCMM NEO
当您的零部件追求极致精度时,您的计量方案也应同样卓越。
基于超过25年的光学计量经验,全新µCMM NEO突破传统尺寸测量的局限,实现更全面的测量能力。以"表面优先”的测量理念与完整的三维数据为基础,帮助您深入理解关键功能特征——无论是微小几何结构、自由曲面还是微孔结构,均可实现更高效率、更高精度以及更深入的数据洞察。
µCMM NEO不仅关注尺寸,更通过基于表面的分析方式,实现对功能特征的真实理解——在每一分钟测量中获取更多信息,为您提供更深入的部件功能性能洞察。

用于微米级精密制造的光学坐标测量机
融合多种光学测量技术与完整三维数据,集成于统一平台,实现从尺寸测量到功能特征表面化理解的全面跃升。
高端制造领域的高端光学坐标测量解决方案
一览 µCMM NEO 的关键优势
为微米级精度而生,
超越极限
专为测量最微小几何结构而设计
以卓越的非接触精度,满足高端精密部件的测量需求
精度毫不妥协
五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度,
在整个测量体积范围内保持稳定可靠。
自第一代产品推出以来,Bruker Alicona 的 μCMM 一直是高精密制造领域中真正的高端测量系统。Stepper 始终代表着最高精度与卓越生产力,因此选择将 μCMM 应用于质量保障,对我们而言是顺理成章的决定。我们深感自豪,早在 2018 年便成为首家 μCMM 客户。八年后的今天,我们再次作为首批用户采用 μCMM NEO,延续这一成功合作——这也是双方在精密制造道路上的又一重要里程碑。

技术规格
| 测量原 | 无接触,光学,三维,基于全自动变焦技术,包含垂直聚焦测量技术 | |
| 测量像素 | 单次测量: X: 2160, Y: 2160, X x Y: 4.6 百万 多点测量:最高可达5亿次 | |
| 定位量 (X x Y x Z) | 310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³ | |
| 轴移动速度 | 最高 100 毫米/秒 | |
| 同轴光 | LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控 | |
| 系统监控 | 8个温度传感器(精度:±0.1 K)、1个湿度传感器、内部电流和电压监测,包括长期数据记录,可检索 | |
| 三维精度10360-8 | EUni:Tr:ODS,MPE = (0.7 + L/600) μm (L in mm) 轴精度符合 ISO 10360-8 标准。 EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm) 适用于单次测量和分段高度测量。 | |
| 最大重量 | 最大承重30公斤;如需更大承重请咨询;5轴系统最大样品重量:4公斤 | |
| 最大尺寸 | 宽度:680 毫米,高度:375 毫米 | |
| 最大可测倾角 | Focus-Variation: 87° / Vertical Focus Probing: >90° (具体应用而定) | |
| 目标 | 1900 WD 30 | 1500 WD23 | 1500 WD70 | 800 WD17 | 800 WD37 | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | |
| 工作距离 | mm | 30 | 130 | 69,4 | 17.5 | 37 | 19 | 11 | 4.5 |
| 单次测量所得的测量面积 (X,Y) | mm | 3.8 | 3.12 | 1.6 | 1.6 | 1.32 | 0.8 | 0.3 | 0.16 |
| (X x Y) | mm² | 14.56 | 9.73 | 9.73 | 2.43 | 2.43 | 1.61 | 0.1 | 0.02 |
| 测量点间距 | µm | 1.77 | 1.45 | 1.45 | 0.72 | 0.72 | 0.36 | 0.14 | 0.07 |
| 测量噪声 | nm | 30 | 90 | 70 | 4 | 25 | 2 | 1 | 1 |
| 垂直分辨率 | nm | 85 | 255 | 200 | 30 | 71 | 20 | 10 | 10 |
测量决定产品品质的关键要素
光学坐标测量机 µCMM NEO
精密模具
掌控定义数百万零件质量的微观几何结构
精密模具将其几何形状直接传递到每一个冲压件中。光学坐标测量机 µCMM NEO 能够可靠验证几何形状、微观结构及基准对齐,确保超精细冲压结构始终保持稳定一致的性能。
喷射喷嘴与阀座
测量从流体效率开始的微孔结构
喷射喷嘴与阀座依赖于微孔结构、密封几何以及精准的特征对齐。
光学坐标测量机 µCMM NEO 能够捕捉微孔、自由曲面阀座几何及功能表面,
突破传统接触式测量的局限,提供完整三维数据,实现对关键流动特征的可靠评估。
电火花加工电极(EDM Electrode)
在型腔加工前,先验证电极质量
电火花加工电极决定了最终蚀刻型腔的几何形状。光学坐标测量机 µCMM NEO 能够在易损的石墨电极及关键微结构上,可靠测量复杂自由曲面与负几何结构,确保在 EDM 加工开始前实现高可靠性的质量验证。
准备迎接新一代光学坐标测量机了吗?
面向高端制造的高精度光学尺寸测量
dieSonne-036-660x440.jpg)
自动化测量,化繁为简
µCMM NEO 搭配智能光学 3D 计量平台 MetMaX,可充分发挥其性能潜力。
导入 CAD 模型,选择所需的 GD&T 或 PMI 特征,即可开始测量。
MetMaX 自动生成智能测量策略,
在不同用户、不同部件及生产环境中,提供快速、一致且可追溯的测量结果。


