µCMM NEO光学尺寸计量的精度标杆

下一代光学坐标测量机 – µCMM NEO

当您的零部件追求极致精度时,您的计量方案也应同样卓越。

基于超过25年的光学计量经验,全新µCMM NEO突破传统尺寸测量的局限,实现更全面的测量能力。以"表面优先”的测量理念与完整的三维数据为基础,帮助您深入理解关键功能特征——无论是微小几何结构、自由曲面还是微孔结构,均可实现更高效率、更高精度以及更深入的数据洞察。 

µCMM NEO不仅关注尺寸,更通过基于表面的分析方式,实现对功能特征的真实理解——在每一分钟测量中获取更多信息,为您提供更深入的部件功能性能洞察。

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Optical Coordinate Measuring Machine µCMM NEO

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应对微米级测量挑战
全新 µCMM NEO 隆重推出

2026年6月24日

用于微米级精密制造的光学坐标测量机

融合多种光学测量技术与完整三维数据,集成于统一平台,实现从尺寸测量到功能特征表面化理解的全面跃升。

高端制造领域的高端光学坐标测量解决方案

一览 µCMM NEO 的关键优势

以表面为核心的计量理念
每分钟获取更多测量信息

轮廓与表面,一次测量完成
从尺寸数据迈向对部件功能的深度理解

为微米级精度而生,
超越极限

专为测量最微小几何结构而设计
以卓越的非接触精度,满足高端精密部件的测量需求

一体化平台 · 一次测量完成

尺寸、位置、形状与粗糙度在同一平台、一次测量流程中完成评估。
替代多种传统测量系统,无需重复定位。

精度毫不妥协

五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度,
在整个测量体积范围内保持稳定可靠。

精度毫不妥协

五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度,
在整个测量体积范围内保持稳定可靠。

自第一代产品推出以来,Bruker Alicona 的 μCMM 一直是高精密制造领域中真正的高端测量系统。Stepper 始终代表着最高精度与卓越生产力,因此选择将 μCMM 应用于质量保障,对我们而言是顺理成章的决定。我们深感自豪,早在 2018 年便成为首家 μCMM 客户。八年后的今天,我们再次作为首批用户采用 μCMM NEO,延续这一成功合作——这也是双方在精密制造道路上的又一重要里程碑。

Logo stepper

技术规格

测量原无接触,光学,三维,基于全自动变焦技术,包含垂直聚焦测量技术
测量像素 单次测量: X: 2160, Y: 2160, X x Y: 4.6 百万 多点测量:最高可达5亿次
定位量 (X x Y x Z)310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³
轴移动速度最高 100 毫米/秒
同轴光LED同轴照明(彩色),大功率,电子可控
系统监控8个温度传感器(精度:±0.1 K)、1个湿度传感器、内部电流和电压监测,包括长期数据记录,可检索
三维精度10360-8EUni:Tr:ODS,MPE = (0.7 + L/600) μm (L in mm) 轴精度符合 ISO 10360-8 标准。 EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm) 适用于单次测量和分段高度测量。
最大重量最大承重30公斤;如需更大承重请咨询;5轴系统最大样品重量:4公斤
最大尺寸宽度:680 毫米,高度:375 毫米
最大可测倾角Focus-Variation: 87° / Vertical Focus Probing: >90° (具体应用而定)
目标1900 WD 301500 WD231500 WD70800 WD17800 WD37400 WD19150 WD1180 WD4
工作距离mm3013069,417.53719114.5
单次测量所得的测量面积 (X,Y) mm3.83.121.61.61.320.80.30.16
(X x Y)mm²14.569.739.732.432.431.610.10.02
测量点间距µm1.771.451.450.720.720.360.140.07
测量噪声nm309070425211
垂直分辨率nm852552003071201010

测量决定产品品质的关键要素

光学坐标测量机 µCMM NEO

精密模具

掌控定义数百万零件质量的微观几何结构

精密模具将其几何形状直接传递到每一个冲压件中。光学坐标测量机 µCMM NEO 能够可靠验证几何形状、微观结构及基准对齐,确保超精细冲压结构始终保持稳定一致的性能。

喷射喷嘴与阀座

测量从流体效率开始的微孔结构

喷射喷嘴与阀座依赖于微孔结构、密封几何以及精准的特征对齐。
光学坐标测量机 µCMM NEO 能够捕捉微孔、自由曲面阀座几何及功能表面,
突破传统接触式测量的局限,提供完整三维数据,实现对关键流动特征的可靠评估。

电火花加工电极(EDM Electrode)

在型腔加工前,先验证电极质量

电火花加工电极决定了最终蚀刻型腔的几何形状。光学坐标测量机 µCMM NEO 能够在易损的石墨电极及关键微结构上,可靠测量复杂自由曲面与负几何结构,确保在 EDM 加工开始前实现高可靠性的质量验证。

准备迎接新一代光学坐标测量机了吗?

面向高端制造的高精度光学尺寸测量

自动化测量,化繁为简

µCMM NEO 搭配智能光学 3D 计量平台 MetMaX,可充分发挥其性能潜力。

导入 CAD 模型,选择所需的 GD&T 或 PMI 特征,即可开始测量。
MetMaX 自动生成智能测量策略,
在不同用户、不同部件及生产环境中,提供快速、一致且可追溯的测量结果。

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