FocusX 速度最快、功能最全的光学三维测量设备
想象一下，一个系统可以解决您所有的测量任务-一个设备通过一个光学传感器可以高精度地测量尺寸，位置，形貌和粗糙度，同时具有可追溯性和高重复性。 探索 FocusX - 同类产品中功能最全、速度最快的光学 3D 测量设备。从高反射表面到陡峭的侧面和复杂的形状，FocusX 的应用是无限的。小半径、锐角和严格的公差对 FocusX 来说都不是挑战，即使是大批量生产也不例外。
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选择 FocusX 的 6 个理由
一键测量粗糙度
快速，简单和符合ISO标准的粗糙度测量-无需使用者具备专业知识。
看见每一个细节，测量每一个细节
对FocusX来说可以显示任何细节，并进行检验和高精度测量。
无与伦比的性价比
FocusX在智能软件包中提供遥遥领先的测量功能
技术规格
| 测量原理 | 非接触，光学，三维 核心技术: 升级版无限变焦技术 垂直聚焦测量技术 真实三维技术 |
| 移动体积 (X x Y xZ) | 200mm x 200mm x 180mm = 7 200 000mm3 |
| 移动体积 (R x T) | 加载高级真实三维旋转台(可选项):电动旋转角度360度/电动倾斜角度达90度 |
| 物镜名称 | 1900 WD30 | 800 WD37 | 800 WD17 | 400 WD30 | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | ||
| 工作距离 | mm | 30 | 37 | 17.5 | 30 | 19 | 11 | 4.5 | |
| 水平测量范围 (X,Y) | mm | 3.8 | 1.6 | 1.6 | 0.8 | 0.8 | 0.3 | 0.16 | |
| 测量点距离 | µm | 1.77 | 0.72 | 0.72 | 0.36 | 0.36 | 0.14 | 0.07 | |
| 测量噪点 | nm | 80 | 40 | 15 | 20 | 5 | 2 | 1 | |
| 垂直分辨率 | nm | 250 | 130 | 50 | 80 | 30 | 15 | 10 |
| 物镜名称 | 1900 WD30 | 800 WD37 | 800 WD17 | 400 WD30 | 400 WD19 | 150 WD11 | 80 WD4 | ||
| 最小测量线粗糙度 (Ra) | µm | 未知 | 0.7 | 0.18 | 0.24 | 0.12 | 0.05 | 0.03 | |
| 最小测量线粗糙度 (Sa) | µm | 未知 | 0.35 | 0.09 | 0.12 | 0.06 | 0.025 | 0.015 | |
| 最小测量半径 | µm | 12 | 5 | 5 | 3 | 3 | 2 | 1 |
作为同级别产品中最快、最多功能的测量设备，您如何从中获益
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作为Bruker Alicona 测量设备的资深用户，我认为 FocusX 的性能几乎不逊于价格更高的设备。它速度快、精度高、测量体积适中，足以满足大多数应用的需要，而且紧凑的设计让我一见倾心"
亲身体验 FocusX
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