Focus Probing快速测量点和轮廓

什么是焦点探查?

Focus Probing技术使用户首次能够快速测量单个3D点和3D轮廓,而不需要垂直扫描。它允许在单个位置从传感器数据中测量计量正确的3D点和轮廓。 用Focus Probing获得的3D轮廓和点可用于各种应用,包括快速测量特征,如距离和直径,或用于将样品与CAD数据集对齐。测量三维数据集的传统方法,如高级聚焦变化和垂直聚焦探测,提供了一个基于区域的三维数据集,由于在Z轴上扫描,需要更多时间。

焦点探测是如何工作的?

焦点探测是如何工作的

新方法 "聚焦探测 "的测量原理与 "垂直聚焦探测 "技术非常相似,不同之处在于不涉及垂直扫描,而是从单个位置的传感器数据中获得三维信息。与垂直聚焦探测技术一样,聚焦探测技术也可以测量垂直墙面上的轮廓,而且还可以在一个视场内同时测量多个三维轮廓。

测量实例:
孔距测量


一个应用实例是两个激光钻孔之间的快速距离测量。这两个孔的轮廓是用Focus Probing测量的。等高线数据集在三维坐标系中自动对齐,以进行两个孔中心之间的快速距离测量。

Focus Probing的优点是处理时间快。通过聚焦探测,可以在三维坐标系中收集高精度的二维轮廓线。由于高效的数据采集方式,测量时间和处理时间大大减少。这导致了基于轮廓的应用的快速测量。

用焦点探测法测量孔距