让我们把你和质量联系起来!电子学中的光学三维计量学

对电子元件进行高精度的质量控制

作为传感器和印刷电路板等电子元件的制造商,您需要依靠高测量精度来大幅降低元件的废品率,为生产提供最佳质量。你是否面临着不同的表面、复杂的几何形状以及甚至在微纳精度级别范围内的严格公差的部件的问题?

来自Bruker Alicona的光学三维测量解决方案可以帮助你应对这些挑战。我们的测量系统用来可以确保电子元件的安全、质量和寿命:即使在生产条件下,也能用可追溯、可重复和高精度的方式测量微精密结构的GD&T,以及难以触及的表面的粗糙度。

您需要技术支持吗?

我们在电子方面的应用

在这里,你可以看到Bruker Alicona光学三维计量学被用于哪些应用:

  • GD&T测量
  • 激光处理的分析
  • 颗粒分析
  • 孔的测量(形状和位置)
  • 表面粗糙度测量

应用的范围在不断扩大。如果您有样品测量需求,请与我们联系。
我们将一起找到一个符合您要求的解决方案。

线束

电子插头

1707

电路板

传感器

你的应用不包括在内?

我们将为您的测量任务找到一个解决方案。请与我们联系!

了解更多关于光学三维测量在电子行业应用的信息

我们在电子行业的亮点产品

讲座:用光学计量学评估连接器

为了保证压合区的质量,必须检查复杂的几何特征,如边缘半径、特定位置的圆截面分析,如从压合区到压合区尖端的过渡区域。在本讲座中,您将从长期从事压配和冲压技术的专家和管理顾问Frank Uibel那里了解到对测量系统的哪些要求。

讲座以德语进行,英文字幕。