IF-Profiler用于粗糙度测量的光学轮廓仪

基于轮廓和面积的粗糙度测量的光学轮廓仪

IF-Profiler是一个手持式3D粗糙度测量系统,用于高分辨率测量表面粗糙度。用户只用一个系统就可以测量平面和曲面部件的粗糙度。测量是基于轮廓(ISO 4287)和基于面积(ISO 25178)进行的。

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技术规格

测量标准 非接触,光学,立体三维,基于Focus Variation 自动变焦技术
定位量 (Z)25 mm (自动)
物镜放大倍数x10x20x50
工作距离mm 17.51610.1
横向测量范围(X,Y)mm210.4
(X x Y)mm²410.16
垂直分辨率nm1005020
最小可测量表面轮廓粗糙度 (Ra)µm0.30.240.18
最小可测量表面面粗糙度 (Sa)µm0.150.120.9
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