基于轮廓和面积的粗糙度测量的光学轮廓仪
IF-Profiler是一个手持式3D粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面粗糙度。用户只用一个系统就可以测量平面和曲面部件的粗糙度。测量是基于轮廓（ISO 4287）和基于面积（ISO 25178）进行的。
技术规格
| 测量标准 | 非接触，光学，立体三维，基于Focus Variation 自动变焦技术 | |
| 定位量 (Z) | 25 mm (自动) |
| 物镜放大倍数 | x10 | x20 | x50 | |||||||
| 工作距离 | mm | 17.5 | 16 | 10.1 | ||||||
| 横向测量范围(X,Y) | mm | 2 | 1 | 0.4 | ||||||
| (X x Y) | mm² | 4 | 1 | 0.16 | ||||||
| 垂直分辨率 | nm | 100 | 50 | 20 | ||||||
| 最小可测量表面轮廓粗糙度 (Ra) | µm | 0.3 | 0.24 | 0.18 | ||||||
| 最小可测量表面面粗糙度 (Sa) | µm | 0.15 | 0.12 | 0.9 |
