超过15年自动变焦技术经验
基于自动变焦技术,我公司研发的设备填补了传统几何尺寸计量设备和表面粗糙度测量设备之间的空缺。使用我们的设备,利用一个传感器,不仅可以稳定,精确,可追溯并且高重复地测量几何结构参数,同时也可以进行粗糙度参数测量。在过去的15年里我们没有停止研发的脚步,不间断地发展和提高光学测量技术。现在加上黑科技垂直聚焦探测技术,我们达到了其他设备难以企及的高度,实现光学采集垂直表面数据,从而可测量拥有超过90度斜面的零部件。
核心技术一览
自动变焦技术
一台设备实现形貌和粗糙度测量
我们的测量系统, 基于自动变焦技术,将表面测量仪的功能与形状测量系统的功能相结合。聚焦变化将光学系统的小聚焦深度与垂直扫描相结合,根据聚焦变化提供形貌和颜色信息。该系统的主要组件是一个精密光学器件,包含各种可以配备不同物镜的透镜系统,从而可以进行不同分辨率的测量。
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垂直聚焦探测
光学测量系统实现在样品的垂直面上采样
迄今为止,在汽车工业中诸如喷射阀孔之类的几何形状很难用光学方法测量。以前横向探测具有垂直表面组件的设备仅限于探针接触测量设备,CT解决方案或复杂的定制解决方案。我们的黑科技“垂直聚焦探测”(自动变焦技术的扩展)彻底解决这个测量难点,从而实现在整个零件表面上进行光学探测。
![[Translate to 中文:] Vertical Focus Probing: lateral probing also works optically [Translate to 中文:] Lateral probing also works optically: Vertical Focus Probing by Bruker Alicona](fileadmin/_processed_/9/4/csm_VFP_rund_01_94c3e234e1.png)
真实三维测量
全貌测量
使用真实三维测量技术,用户可以从多个角度测量表面。然后,软件将单次测量自动合并为完整的三维数据集。高精度和校准的旋转和倾斜轴可确保对整个测量对象的形状和粗糙度进行自动,可重复和可追溯的测量。用户可以直观的测量表面特征,例如各种侧面角度,螺距和底切。
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