超过15年自动变焦技术经验

基于自动变焦技术，我公司研发的设备填补了传统几何尺寸计量设备和表面粗糙度测量设备之间的空缺。使用我们的设备，利用一个传感器，不仅可以稳定，精确，可追溯并且高重复地测量几何结构参数，同时也可以进行粗糙度参数测量。在过去的15年里我们没有停止研发的脚步，不间断地发展和提高光学测量技术。现在加上黑科技垂直聚焦探测技术，我们达到了其他设备难以企及的高度，实现光学采集垂直表面数据，从而可测量拥有超过90度斜面的零部件。