灵活移动,高精度测量

PortableRL

 


IF-PortableRL 是一款三维光学测量设备,主要应用于质量控制中微观表面结构的测量。该设备可以实现的测量范围可达到50x50x26毫米,可测量拥有弯曲和平整表面的零件。通过特别配备的手提电池,还可以实现灵活的移动定位,可测量任何需要测量的部分。基于其大范围的垂直扫描能力,可以测量各种不同几何种类和形貌。除此以外,该设备还可以实现平面检测,球类测量,涡轮叶片或旋转叶片的质量控制,以及钢铁零部件的三维测量。

技术参数

测量标准 非接触,光学,立体三维,基于Focus Variation 自动变焦技术
定位量 (X x Y x Z) 50 mm x 50 mm x 25 mm = 62500mm³
物镜放大倍数   10x 20x 50x 2xSX 5xAX 10xAX 20xAX 50xSX
工作距离 mm 17.5 16 10.1 34 34 33.5 20 13
横向测量范围 (X,Y)
(X x Y)
mm
mm²
2
4
1
1
0.4
0.16
10
100
3.61
13.03
2
4
1
1
0.4
0.16
垂直分辨率 nm 150 75 50 3500 460 170 90 70
高度精度 (1 mm) % 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1
最小测量表面粗糙度 (Ra) µm 0.55 0.25 0.2 n.a. n.a. 0.65 0.3 0.25
最小测量表面粗糙度 (Sa) µm 0.30 0.15 0.1 n.a. n.a. 0.35 0.15 0.13
最小测量半径 µm 5 3 2 20 10 5 3 2

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高测量密度

高达5亿个测量点确保超精密测量,同时也可以保证即使在长工作距离下,也能保持公差在微米甚至亚微米范围内。Focus-Variation光学技术的高测量点密度使操作员能够在大范围测量过程中获得始终如一的高横向和纵向分辨率。

测量倾斜斜面

来自不同方向的光源通过处理可以提高测量效果,从而获得最佳倾斜斜面的数据,也不会受到物镜数值孔径的影响。根据不同的表面特性甚至可以测量达到87度的斜面。

 

各种不同表面反射特性

运用SmartFlash软件可以实现对各种具有不同表面折射特性的材料实现高分辨率测量。组合光源可以为整个测量范围提供最佳测量光源。我们的用户使用该设备可以为粗糙的,光滑的和高反射表面提供完整的三维测量。

Focus Variation 自动变焦技术

Alicona测量系统基于Focus Variation 自动变焦技术,该技术完美融合了表面粗糙度测量仪器和形貌测量仪器的功能。每一台Alicona测量系统都是一台集合表面测量设备,表面粗糙度测量设备,真实三维测量设备于一体的微米级坐标设备。Focus Variation 自动变焦技术将光学系统的小焦深与垂直扫描相结合,从焦点的变化中提供形貌和颜色信息。该系统的主要组成部分是包含各种镜头部件的精密光学系统,可配备不同的物镜,以不同的分辨率进行测量。