IF-Profiler

Optisches 3D Profilometer zur Rauheitsmessung

Der IF-Profiler ist ein optisches 3D Profilometer zur hochauflösenden, automatischen Rauheitsmessung. Anwender profitieren neben der profilbasierten Rauheitsmessung nach ISO 4287/88 auch von der flächenhaften Messung der Oberflächentextur nach ISO 25178. Der ergonomische Aufbau in Kombination mit der handlichen Steuereinheit verbindet leichte Handhabung mit notwendiger mechanischer Festigkeit. Ab einer Messzeit von drei Sekunden werden auch bei stark strukturierten Rauheiten rückführbare Messungen in hoher Wiederholgenauigkeit erzielt.

Technische Spezifikationen

Messprinzip berührungslos, optisch, dreidimensional, basierend auf Fokus-Variation
Positioniervolumen (Z) 25 mm (mot.)
Objektivvergrößerung   10x 20x 50x
Arbeitsabstand mm 17.5 16 10.1
Lateraler Messbereich (X,Y)
(X x Y)
mm
mm²
2
4
1
1
0.4
0.16
Vertikale Auflösung nm 100 50 20
Min. messbare Rauheit (Ra) µm 0.3 0.24 0.18
Min. messbare Rauheit (Sa) µm 0.15 0.12 0.09

Weitere Spezifikationen und Informationen finden Sie im Produktdatenblatt.

Hohe Messpunktdichte

Bis zu 500 Millionen Messpunkte sorgen für eine detailgenaue Messung mit Toleranzen im Bereich von μm und subμm bei großem Arbeitsabstand. Die hohe Messpunktdichte der Focus-Variation ermöglicht eine gleichbleibend hohe laterale und vertikale Auflösung über große Messvolumina.

 

Steile Flanken über großen Scan-Bereich messen

Licht aus verschiedenen Richtungen beeinflusst die Messung positiv. Der maximal messbare Flankenwinkel ist nicht durch die numerische Apertur der Optik beschränkt. Das ermöglicht die Messung von Oberflächengeometrien mit Flankenwinkeln von bis zu 87°.

Reflektierende Bauteile messen

Die bewährte SmartFlash Technologie von Alicona basiert auf modulierter Beleuchtung und bewirkt, dass jeder Bereich im Messfeld optimal ausgeleuchtet ist. Das ermöglicht die Messung von Werkstücken mit unterschiedlichen Oberflächen-eigenschaften und Reflexionsmustern.

Focus-Variation Technology

Die Fokus-Variation ist ein flächenbasiertes Verfahren zur optischen, hochauflösenden 3D Oberflächenmessung im Mikro- und Nanobereich. Die Technologie kombiniert die Funktionalitäten eines Rauheitsmessgeräts und eines Koordinatenmesssystems. Genutzt wird die geringe Tiefenschärfe einer Optik, um die Tiefeninformation einer Probe zu extrahieren.