3D-Datensätze von Wendeschneidplatte und Einspritzventil

CMM

Messen Sie Flanken mit mehr als 90°

Optisches µCMM ermöglicht seitliches Antasten

Bisher waren Geometrien von Bohrungen wie z.B. von Einspritzventilen aus der Automobilindustrie optisch kaum messbar. Das seitliche Antasten von Bauteilen mit vertikalen Flächen beschränkte sich auf taktile Messsysteme, CT-Lösungen oder komplexe Sonderlösungen. Das ändert sich nun mit einer neuen Funktion des optischen Koordinatenmesssystems µCMM. Ab sofort können Sie vertikale Flächen mit mehr als 90° auch optisch messen!

Optische Lochmessung

Die jüngste Erweiterung des µCMMs bietet nun auch das seitliche Antasten von Bauteilen. Das ermöglicht u.a. die Messung von Löchern bzw. Bohrungen mit einem Durchmesser-Tiefen-Verhältnis von 1:3 bis 1:10. Der messbare Durchmesser beträgt 0.1 mm bis 2 mm. Gemessen werden Parameter wie Außen- und Innendurchmesser sowie der Öffnungswinkel.

Seitliches Antasten

Referenzflächen, Konturen, Längen und mehr

Zusätzlich zur Lochmessung sind Referenzflächen, Konturen, Längen durch seitliches Antasten messbar. Messungen erfolgen in hoher Genauigkeit, hoher Auflösung und in kurzer Messzeit.



Messung von mehreren Löchern

mit der µCMM Real3D-Rotationseinheit

In Kombination mit der automatischen Dreh- und Schwenkachse „µCMM Real3D“, die aus einem 3-Achs- ein 5-Achssystem macht, werden auch mehrere Löcher inklusive ihrer Orientierung zueinander gemessen. Eine mögliche Anwendung ist die Messung von Einspritzdüsen inklusive Durchmesser, K-Faktor, Einspritzwinkel und Seitenwinkel.

Vertical Focus Probing

Erweiterung der Fokus-Variation

Das zum Patent angemeldete Verfahren des „Vertical Focus Probing“ zur Lochmessung ist eine Erweiterung der Fokus-Variation. Das Verfahren basiert auf der Nutzung eines partiellen Lichtkegels: Einzelne, von vertikalen Flächen diffus reflektierende Lichtstrahlen, werden vom Objektiv erfasst. Flanken mit mehr als 90° sind nun hochauflösend, rückführbar und wiederholgenau messbar. Diese gemessenen vertikalen Flanken können z.B. für das Einpassen eines Bezugs-Koordinatensystems verwendet werden.


Bruker Alicona präsentierte auf der Control 2019 sein neues optisches Mikrokoordinatenmessgerät µCMM und in diesem Zusammenhang die neue Technologie "Vertical Focus Probing",  eine Erweiterung der Fokus-Variation Technologie. "Vertical Focus Probing" ermöglicht das seitliche Antasten von vertikalen Flächen. Mit nur einem Sensor werden Flanken mit mehr als 90° seitlich angetastet und optisch gemessen... 

Sehen Sie sich das Video an>>>>


Erfahren Sie mehr zum Alicona µCMM