网络研讨会

光学测量在哪些方面取代了触觉测量

      

​垂直聚焦测量技术VFP颠覆了测量技术的游戏规则

敬请期待

在很长的一段时间里,在计量测量学中,诸如孔和垂直自由形状的几何特征几乎无法用光学方法测量。为了解决垂直表面零件的横向探测问题,仅可以使用触觉测量系统、CT解决方案或复杂的特殊解决方案。我们的全新技术垂直聚焦测量技术VFP改变了这种情况,它是自动变焦技术的拓展,可以对拥有超过90°斜面的零件进行光学测量。从而实现了以高精度、高分辨率和较短的测量时间测量零件,如孔、基准面、轮廓、长度等的特征。

在研讨会的第一部分,我们将向您展示垂直聚焦测量技术VFP能做什么,受什么限制和我们为什么能做到其他技术不能做到的。

在研讨会的第二部分,我们将现场验证来自不同行业的各种不同样品。我们将向您展示,如何利用光学技术高精度测量某些样品的特征,而这些特征是接触式测量技术无测量的。

 

Measurement of a USB port using Vertical Focus Probing

首先,您会发现在精密制造方面,对于机芯各个部件的测量有哪些不同的要求。在钟板和自动卷绕装置中,主要的要求是距离尺寸、直径、高度阶梯和GD&T方面的尺寸精度,例如位置公差。通过结合自动变焦技术、垂直聚焦测量技术和测量系统µCMM等技术,无需对零件进行过多操作,只需从一个观察方向进行快速、高精度的测量。

在第二个应用案例中,我们不仅介绍了如何测量泰科电子有限公司生产的连接器,还包括我们的技术在哪些制造步骤和工具中的应用。其中包括表面涂层的粗糙度和缺陷测量,模具的GD&T测量,冲孔和压花冲头,以及用垂直聚焦测量技术实现测量超过90°的内孔几何形状。

最后是问答环节,您可以在此环节向我们提问。

courtesy of TE Connectivity

研讨会主讲

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Urban Muraus
销售总监

Franz Helmli - Alicona Head of R&D

Franz Helmli
技术和研发总监

Martina Blattl
应用总监

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