网络研讨会

光学测量在哪些方面取代了触觉测量

      

​垂直聚焦测量技术VFP颠覆了测量技术的游戏规则

2021年4月22日,星期四

敬请期待

在很长的一段时间里,在计量测量学中,诸如孔和垂直自由形状的几何特征几乎无法用光学方法测量。为了解决垂直表面零件的横向探测问题,仅可以使用触觉测量系统、CT解决方案或复杂的特殊解决方案。我们的全新技术垂直聚焦测量技术VFP改变了这种情况,它是自动变焦技术的拓展,可以对拥有超过90°斜面的零件进行光学测量。从而实现了以高精度、高分辨率和较短的测量时间测量零件,如孔、基准面、轮廓、长度等的特征。

 

在研讨会的第一部分,我们将向您展示垂直聚焦测量技术VFP能做什么,受什么限制和我们为什么能做到其他技术不能做到的。

在研讨会的第二部分,我们将现场验证来自不同行业的各种不同样品。我们将向您展示,如何利用光学技术高精度测量某些样品的特征,而这些特征是接触式测量技术无测量的。

最后是问答环节,您可以在此环节向我们提问。

Measurement of a USB port using Vertical Focus Probing

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2021年4月22日,星期四

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研讨会主讲

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Urban Muraus
销售总监

Franz Helmli - Alicona Head of R&D

Franz Helmli
技术和研发总监

Martina Blattl
应用总监

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