尺寸精度和表面粗糙度测量

NEW: InfiniteFocusG6

InfiniteFocusG6是一款高精度、快速、通用的光学三维测量仪器。用于测量微米和亚微米范围内的公差。以面测量为基础测量零件，具有高分辨率，不受尺寸、材料、几何形状、重量和样品表面加工质量的影响。我们最新的第六代InfiniteFocus包含一些经过验证的新功能和新创新，并结合这些功能将粗糙度测量系统(测量参数Ra、Rq、Rz/Sa、Sq、Sz）与坐标测量设备的特性结合起来。仅使用一个光学传感器就可以实现形貌和粗糙度测量。

InfiniteFocus是制造业的理想选择。强大的无限变焦技术和防震的设计确保了即使设备是在机床旁边，也能提供高分辨率和可重复的测量结果。

网络研讨会 3种技术在一个传感器中
更快、更直观、更准确使用InfiniteFocusG6

在我们的网络研讨会上，了解我们全新的三维计量系统的所有情况 - 从好处到应用。

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全新InfiniteFocusG6

- 无与伦比的测量性能 -

- 划时代的用户体验 -

- 面向未来的技术组合 -

- 智能设计 -

我们将成熟的和全新的功能结合在一起，

推出融合坐标测量和粗糙度测量功能的全新系统。

5轴计量学：
过将系统从 3 轴扩展到 5轴，可以测量之前难以或无法触及的几何形状。高精密的倾斜/旋转轴可以测量整个样品的几何尺寸标注和公差以及粗糙度参数。

SmartFlash和Real3D：
集成的SmartFlash技术确保对光滑、反射和高度抛光的表面进行高分辨率的测量。Real3D将单个测量结果转化为一个完整的360°数据组。

MetMaX用户软件:
用户已经在零件的CAD模型中指定测量值。数字孪生与虚拟测量模拟相结合，实现了测量仪器的可靠运行。

垂直聚焦测量技术：
最新的技术实现了对零件的光学、水平横向探测。用户可以测量小孔和垂直侧面（>90°）。

InfiniteFocusG6的测量实例

光滑的表面

感谢高级无限变焦技术，用户可以测量具有陡峭侧面、不同反射特性和结构粗糙度的零件。集成的SmartFlash技术确保了对光滑、反射和高度抛光的表面进行高分辨率的测量。

接骨螺钉

通过使用Real3D技术，用户实现了对一个零件的全形貌测量（360°）。这里显示了与相应的CAD数据集的直接比较。此外，还可以测量样品的粗糙度。

技术参数 InfiniteFocusG6

Measurement principle

non-contact, optical, three-dimensional
Technologies:
Advanced Focus-Variation (SmartFlash 2.0),
Vertical Focus Probing,
Real 3D

Objective magnification	3000 WD8	1900 WD30	800 WD37 (2)	800 WD17	400 WD30 (2)	400 WD19	150 WD11	80 WD4
Working distance	mm	8.8	30	37	17.5	30	19	11	4.5
Lateral measurement range (X,Y)	mm	5.3	3.8	1.6	1.6	0.8	0.8	0.3	0.16
Measurement point distance	µm	2.88	1.77	0.72	0.72	0.36	0.36	0.14	0.07
Vertical resolution	nm	2300	250	130	50	80	30	15	10
Min. measurable roughness (Ra)	µm	n.a.	n.a.	0.7	0.18	0.24	0.12	0.05	0.03
Min. measurable roughness (Sa)	µm	n.a.	n.a.	0.35	0.09	0.12	0.06	0.025	0.015
Min. measurable radius	µm	20	12	5	5	3	3	2	1

InfiniteFocus系列的更多测量系统

InfiniteFocus G5plus

InfiniteFocus G5plus与InfiniteFocusG6一样，可测量微型精密部件的形状和粗糙度。两种测量仪器的最大区别在于用户软件。InfiniteFocusG6和MetMaX的测量已经根据零件的CAD模型计划好了，而InfiniteFocus G5plus的测量位置是在真实零件上定义的。

您想了解更多吗？请与我们联系，我们将讨论您的应用，看看哪种测量系统适用于您的测量任务

技术参数InfiniteFocus G5plus

测量标准	非接触，光学，立体三维，基于Focus Variation 自动变焦技术, Vertical Focus Probing
定位量(X x Y x Z)	200 mm x 200 mm x 100 mm = 4000000 mm³

物镜放大倍数	2.5x	4x	10x HX	10x	20x HX	20x	50x	100x
工作距离	mm	8.8	23.5	37	17.5	30	19	11	4.5
横向测量范围 (X,Y) (X x Y)	mm mm²	5.63 31.7	2.82 7.85	1.62 2.62	1.62 2.62	0.7 0.49	0.81 0.66	0.32 0.10	0.16 0.03
垂直分辨率	nm	2300	410	250	100	80	50	20	10
高度精度 (1 mm)	%	n.a.	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05	0.05
可选择最佳测量范围	mm²	40000	40000	40000	40000	24780	24780	3965	990
最小测量表面粗糙度 (Ra)	µm	7	1.2	0.75	0.3	0.24	0.15	0.06	0.03
最小测量表面粗糙度 (Sa)	µm	3.5	0.6	0.375	0.15	0.12	0.075	0.03	0.015
最小测量半径	µm	20	10	5	5	3	3	2	1