微米级三坐标测量仪高精度测量具有严格公差要求
的零部件 

µCMM

 


μCMM 微米级三坐标测量仪是在同级别测量设备中,精度最 高的纯光学,微米级坐标测量设备。在使用该设备过程中,用户可以结合传统接触式坐标测量技术和光学表面测量技术二者的优势,通过启动一个传感器就能获得零部件尺寸,位置,形状和粗糙度数据。μCMM微米级三坐标测量仪可以提供几个不同三维测量数据之间相对的高精度几何数值,可以对大型零件的微小表面细节进行测量,同时也可以精准确定这些不同的测量部分之间的位置关系。在可测材料方面,该设备可以探测几乎所有常见的工业材料和复合材料表面光谱,如塑料,多晶金刚石 PCD, 碳纤维增强聚合物 CFRP, 陶瓷,铬,硅。 该设备还可以测量具有磨砂表面,或者抛光,或者反射性质的材料。同时,在设备操作方面,通过采用一键解决方案,加载自动化和符合人体工程学的控制元件,如专门设计的控制器,从而简化了设备操作。之所以该设备拥有如此高精度,快速测量的功能,是因为我们使用了直线驱动的空气轴承从而实现了无磨损使用。该技术也使 μCMM 微米级三坐标测量仪成为在生产环境中可以永久使用的理想测量设备。
 

 

EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm
EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) µm

打开全新生产测量技术的大门

µCMM 微米级三坐标测量仪网络研讨会

 

技术参数

测量标准 非接触,光学,立体三维,基于Focus Variation 自动变焦技术
测量像素 单独测量: X: 1720, Y: 1720, X x Y: 2.95 百万
多个测量, 最多可达5亿
定位量 (X x Y x Z) 310 mm x 310 mm x 310 mm = 29 791 000 mm³
轴移动速度 可达100毫米/秒
同轴光 LED同轴照明(真彩),高功率,电子控制
系统监控 9个温度传感器(精度: ± 0.1 K),3个震动检测传感器,内部电流和电压监控,包括长期记录,可检索
三维精度10360-8 以下数据基于 ISO 10360-8 和 VDI 2617 EUni:Tr:ODS,MPE = (0.8 + L/600) μm (L in mm)可应用于所有多重测量
EUniZ:St:ODS,MPE = (0.15 + L/50) μm (L in mm)仅限于单个测量,高度测量
镜头放大倍数   3000WD8 1900WD30 1500WD23 1500WD70 800WD17 800WD37 400WD19 150WD11
工作距离 mm 8.8 30 23.5 64.4 17.5 37 19 11
水平测量范围 (X,Y)
(X x Y)
mm
mm²
5.26
27.64
3.29
10.8
2.63
6.91
2.63
6.91
1.32
1.71
1.32
1.71
0.66
0.43
0.26
0.06

下载产品说明获得更多信息或者联系我们

 

µCMM功能

直观的多用户设计

设备可测量的表面光谱在很大程度上不再取决于材料本身,可以测量工业中常用的所有材料和复合材料,从亚光到抛光或镜面组件。

 

 

密集的非接触测量点和不局限于材料特性的测量

Alicona测量系统集合了表面和坐标测量设备的功能。因此用户就可以减少在质量控制流程中的投入,高效获得测量结果

 

 

无磨损,高效率

所有测量部件,包含移动轴实现无接触运行。通过使用空气轴承,完全消除摩擦力和磨损的影响,从而可以精准,快速地进行测量。因此微三坐标测量仪真正是生产中可以一直使用的设备。

New Software MetMax

 From "How do I measure?” to “What do I measure?”

Focus Variation 自动变焦技术

Alicona测量系统基于Focus Variation 自动变焦技术,该技术完美融合了表面粗糙度测量仪器和形貌测量仪器的功能。每一台Alicona测量系统都是一台集合表面测量设备,表面粗糙度测量设备,真实三维测量设备于一体的微米级坐标设备。Focus Variation 自动变焦技术将光学系统的小焦深与垂直扫描相结合,从焦点的变化中提供形貌和颜色信息。该系统的主要组成部分是包含各种镜头部件的精密光学系统,可配备不同的物镜,以不同的分辨率进行测量。

 

More information about the optical CMM:

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