中国国际机床展

CIMT//2021年4月12日至17日,中国国际展览中心

网络研讨会 | 2021年4月22日

在4月22日举行的在线研讨会上,您将看到光学系统在哪些方面正在取代接触式测量方法以及您将如何从黑科技垂直聚焦测量VFP受益,此技术为自动变焦技术Focus-Variation的拓展。
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Alicona InfiniteFocus
简化录入 - 简化操作 - 简化整合

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BRUKER ALICONA

几何尺寸精密计量和表面粗糙度测量专家


Bruker Alicona测量系统基于光学自动变焦技术,该测量系统填补了传统几何尺寸计量设备和表面粗糙度测量设备之间的空缺。我们的核心竞争力是仅凭一套设备,面对拥有不同形状,尺寸和材质等复杂特性的零部件,都可以实现几何尺寸,位置,形状和粗糙度的测量。我们独特的光学三维计量产品可应用于所有的生产测量需求,自动化生产,产品开发和传统的质量控制需求。我们的客户通过使用一个光学传感器,就能够可靠,准确地测量几何尺寸特征,粗糙度,且由此获得的测量结果是可追溯,具有高重复性的。我们的高分辨率光学测量产品,可以满足从实验室到生产线不同环境的需求。我们在全球拥有在不同行业处于领先地位的客户,只要客户需要实现快速,精确和可重复地测量复杂零部件, Bruker Alicona的光学三维测量系统就是他们解决问题的利器。