Alicona Profiler

IF-Profiler

광학 표면 거칠기 측정 및 표면 특성 분석용 프로필 측정기기

IF-Profiler는 고해상도의 표면 거칠기 자동 측정 용 3D 광학 프로필 측정기기입니다. ISO 4287/88에 의거한 프로필 기반 표면 거칠기 측정 외에 ISO 25178에 의거한 표면 텍스처도 측정할 수 있습니다. 3초의 측정 시간부터 거칠기가 매우 심한 경우에도 높은 재현성으로 추적 가능한 결과를 얻을 수 있습니다. IF-Profiler는측면이 가파르고 코팅이 다양한 미세 구조 표면 의 측정에 적합합니다.

기술 사양

측정 원리

Focus-Variation 을 이용한 비접촉, 광학식, 3차원 측정

포지셔닝 볼륨 (Z)

25 mm (mot.)

객관적인 확대

10x

20x

50x

작동 거리

17.5 mm

16 mm

10.1 mm

측면 측정 범위 (X, Y)

(X x Y)

2 mm

4 mm²

1 mm

1 mm²

0.4 mm

0.16 mm²

수직 분해능

100 nm

50 nm

20 nm

최소 Ra

0.3 µm

0.24 µm

0.18 µm

최소 Sa

0.15 µm

0.12 µm

0.09 µm

 

다음에서 모든 기술 사양 을 찾을 수

이동식이고 융통성 있으며 간단하게 조작할 수 있음

간편한 제어장치와 결합된 인체공학적 구조로 사용법이 용이할 뿐만 아니라 기계적 강도도 필요한 만큼 튼튼합니다. 이동식 제어 서버로 노트북을 사용할 수도 있습니다.

가파른 측면 측정

다른 방법과 달리, 측정은 다양한 방향의 빛에 의해 긍정적인 영향을 받습니다. 또한 최대의 측면각이 렌즈의 개구수에 의해 제한을 받지 않습니다. 이로써 표면에 따라 최대 87°까지 측면을 측정할 수 있습니다.

표면 마감이 다양한 공작물 측정

Alicona의 지능형 조명 기술로 표면 특성이나 반사 패턴이 다른 공작물도 빠르고 직관적으로 측정할 수 있습니다. 조절 가능한 조명이 측정 범위 내의 모든 영역을 최적으로 밝혀줍니다.


우리 와 접촉 얻을

FOCUS-VARIATION 기술

Focus-Variation combines the small depth of focus of an optical system with vertical scanning to provide topographical and color information from the variation of focus. The main component of the system is a precision optic containing various lens systems that can be equipped with different objectives, allowing measurements with different resolution.

 

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