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News
- Neuheiten auf der Control 2010
  Geometrien werden kleiner und komplexer, Toleranzen immer enger, und die rückführbare Qualitätssicherung ist eine existentiell
- Neue Grips released!
  Einfachere und wiederholbarere Probenpositionierung!
- InfiniteFocus 3.5 released!
  Neue Release macht InfiniteFocus noch schneller und benutzerfreundlicher!
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Presse & Publikationen
- aktuelle Artikel
- Kantenmessung von Wendeschneidplatten in der Produktion
- Präzise in der Produktion
- Oberflächlich gesehen - Optische 3D Messtechnik verbessert Aerodynamik von Windanlagen
Presse Archiv »
Veranstaltungen
- Control China
  Die internationale Fachmesse für Qualitätssicherung
  18. - 20. August 2010
  Shanghai, China
- COMS 2010
  Commercialization of Micro-Nano Systems Conference
  29. August - 2. September 2010
  Albuquerque, New Mexico, USA
- Microsys
  Fachmesse für Mikro- und Nanotechnik
  13. - 16. September 2010
  Stuttgart, Deutschland
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