InfiniteFocus in der Forensik

Nederlands Forensisch Insituut

Forensik

René Pieterman, Kriminaltechniker und Spezialist invasiver Traumata erklärt, was 3D Oberflächenmesstechnik mit Spurensicherung zu tun hat.

Das „Nederlands Forensisch Instituut“ (NFI) in Den Haag gehört zur Behörde des niederländischen Justizministeriums. InfiniteFocus ist unter anderem im Einsatz, um Gewebe und Knochen verstorbener Verbrechensopfer zu untersuchen.Geprüfte und hoch qualifizierte Experten aus rund 40 Spezialgebieten tragen im NFI zur Verbrechensaufklärung bei. Pathologie, Anthropologie, Toxikologie, Schuss- und Waffenkunde, Gerichtsmedizin, Sprengstoff, Spurensicherung und DNA sind nur einige der entsprechenden Fachgruppen.

Inwieweit kann 3D Oberflächenmesstechnik zur Aufklärung von Verbrechen beitragen?

In der Forensik kommt heute beinahe kein Bereich mehr ohne 3D Oberflächenmesstechnik aus. In der Spurensicherung wird alles Mögliche untersucht: Spuren auf Werkzeugen, Spuren am Tatort, Spuren, die auf Tatgegenstände wie Werkzeuge, Waffen oder andere Objekte hinweisen. Hauptsächlich werden Spuren untersucht, die am Opfer zu finden sind. Mit InfiniteFocus messen wir vor allem Gewebe und Knochen.

 

Wie sind derartige Oberflächen typischerweise beschaffen?

Menschliche und tierische Knochensplitter oder Gewebe haben teilweise recht schwierige Oberflächen. Deshalb haben wir ja am Institut InfiniteFocus angeschafft. Denn Fasern, steile Flanken, der Wechsel von Reflexionen oder überhaupt glatte und reflektierende Oberflächen von Waffen und synthetischen Stoffen werden damit problemlos gemessen.

 

Wo wird InfiniteFocus noch eingesetzt?

Nachdem ich nahezu jede Oberfläche mit dem System messen kann, setzen wir es auch entsprechend vielfältig ein. Metallische Komponenten, Holz, synthetische Stoffe, Patronen usw. sind die Objekte, die zusätzlich untersucht werden.

 

Wo sehen Sie die Vorteile von InfiniteFocus?

Einer der bemerkenswertesten Vorteile ist der Faktor Licht. Durch die Kombination aus axialer Beleuchtung und Ringlicht haben wir keine störenden Reflexionen. Das System füllt außerdem die Lücke zwischen Standardmikroskopen und dem Rasterelektronenmikroskop. Wir sind jetzt in der Lage, rückführbare Messungen mit bis zu 10nm Auflösung in Z Richtung zu erzielen.