Alicona Profiler

IF-Profiler

用于光学测量粗糙度和确定表面形貌的轮廓仪

IF-Profiler为手持式3D粗糙度测量设备,用于抛光表面的高分辨率测量。无论是平滑表面还是曲面均可用该设备进行测量。测量依据线粗糙度(ISO4287)和面粗糙度(ISO25178)两个标准。该设备可高速完成多项功能及应用。不同位置以及测量区域均可追溯且直观。IF-Profiler也可用于带有陡直斜面或者不同图层的几何数据测量。

技术规格

测量原则

无接触,光学,3D界面,基于无限聚焦变化技术

定位音量 (Z)

25 mm (mot.)

物镜放大倍率

10x

20x

50x

工作距离

17.5 mm

16 mm

10.1 mm

横向测量范围 (X, Y)

(X x Y)

2 mm

4 mm²

1 mm

1 mm²

0.4 mm

0.16 mm²

垂直分辨率

100 nm

50 nm

20 nm

最小粗糙度测量 (Ra)

0.3 µm

0.24 µm

0.18 µm

最小粗糙度测量 (Sa)

0.15 µm

0.12 µm

0.09 µm

 

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可随意移动,灵活性高并且操作简便

符合人体工程学原理的设计构造与易操作的控制单元相结合,既保证了操作的简便性,又不失必要的机械强度。由于采用笔记本电脑作为控制服务器,因此测量仪能够灵活移动。

测量陡直侧壁

来源于不同方向的光线照射样品,通常给测量带来积极的影响 。同样,最大侧壁角不会受到光学器件的数值孔径的限制。因此,依据表面情况,可实现最大87°的侧壁测量。

对各种不同表面特性的工件进行测量

借助Alicona的智能照明技术,能够对具有各种不同表面属性或反射模式的工件进行快速和直观的测量。模块化的照明系统使得在测量范围内的每一个区域均能够获得理想的照明效果。


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自动变焦

自动变焦技术是光学垂直扫描与小井深相结合,获得不同高度聚焦的形貌及颜色信息,从而得到样品的3D结构。对形貌和粗糙度测量,包含高达500万测量点,而且这些测量点都是可重复和可追溯的。该技术利用了光学元件焦点的有限景深度。在最新的EN ISO Standard 25178标准中收录了变焦技术。设备的主要组成是能安装多个物镜的高精度光学系统,允许在不同分辨率下进行测量。

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